JEDEC JESD22-A119A：2015 Low Temperature Storage Life（低温储存寿命 ）- 完整英文电子版（7页）
本测试适用于所有固态设备的评估，筛选，监视和/或鉴定。低温存储测试通常用于确定存储条件下时间和温度对固态电子设备（包括非易失性存储设备）的热激活故障机制（数据保留故障机制）的影响。 在测试过程中，在不施加电应力的情况下使用了降低的温度（测试条件）。 此测试可能具有破坏性，具体取决于时间，温度和包装（如果有）。
文件下载
评论信息
其他资源
- FPGA数字信号处理（一）数字混频
- 广东电网配网自动化104规约实施细则（试行）.docx
- 在线显示pdf.js
- 放大器模型的matlab仿真实现
- 银行信贷管理系统代码
- 光伏电池最大功率点跟增MPPT及仿真曲线
- 商城小程序带前后+后台+安装说明文件
- C#，SQL窗体学生成绩管理系统
- 51单片机C语言编程输出方波脉冲
- CPAS-15.01-18.11.17745.18431_signed.exe
- 繪製和模擬自動控制電路的程序.zip
- 一个数学家的变白
- mybatis-plus自定义模板.zip
- splite3.exe
- VBA新建菜单.xlsm
- ZIMO21取字模软件
- 2018TI杯竞赛资料以及代码
- SSM框架写的一个增删改查，适合初学者看看，
- WPF-自定义控件
- 信息安全编程（DES加密解密算法MFC程序）
免责申明
【只为小站】的资源来自网友分享，仅供学习研究，请务必在下载后24小时内给予删除，不得用于其他任何用途，否则后果自负。基于互联网的特殊性，【只为小站】 无法对用户传输的作品、信息、内容的权属或合法性、合规性、真实性、科学性、完整权、有效性等进行实质审查；无论 【只为小站】 经营者是否已进行审查，用户均应自行承担因其传输的作品、信息、内容而可能或已经产生的侵权或权属纠纷等法律责任。
本站所有资源不代表本站的观点或立场，基于网友分享，根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定，若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员，zhiweidada#qq.com，请把#换成@，本站将给予最大的支持与配合，做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明
本站所有资源不代表本站的观点或立场，基于网友分享，根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定，若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员，zhiweidada#qq.com，请把#换成@，本站将给予最大的支持与配合，做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明