AEC汇总 - 自研AE调试流程

AEC（Auto Exposure Control，自动曝光控制）是数字图像处理中至关重要的一个环节，它直接关系到拍摄图片的亮度是否适宜，过度曝光或欠曝光都会对成像质量产生负面影响。在自研的AE调试流程中，主要涉及的是如何通过调整AEC来获得理想的照片明暗效果。 自研AEC调试流程大体可分为几个部分：流程框架简图介绍、调试前的准备工作、曝光查找表的构建、针对拍摄场景与对象的Target计算方法，以及调试案例的分享。其中，流程框架简图是理解AEC工作原理的重要参考，它展示了曝光的索引传递、曝光表的查询、最大曝光限制及曝光和增益的最终输出等关键步骤。 调试前的准备工作主要包括获取并配置参数代码，这是进行有效调试的基础。需要在gerrit平台中找到mm-camerasdk项目，并通过git命令检出特定分支，从而获取到相机SDK文件夹。在文件夹中，不同项目和版本对应不同的参数代码，需要细致核对。调试时，还需使用adb命令及logcat工具来查看与调整参数。 曝光查找表是AEC流程中的核心部分，它依据最小曝光时间和增益的乘积来构建一个以3%增长的指数曲线查找表。这个查找表帮助系统判断在特定光照条件下应如何调整曝光时间与增益值以获得最佳曝光效果。 在进行实际拍摄时，根据不同的拍摄对象（如景物或人物），需要计算对应的Target值。Target值是指令相机调整感光元件增益和曝光时间以达到预期图像亮度水平的目标参数。计算过程中需要考虑传感器的增益、曝光时间以及优先级等因素。 通过以上步骤，结合实际的调试案例，可以有效地对自研平台上的AEC进行调整，以适应不同的拍摄条件和需求。整体流程中，每一个步骤都是紧密相关的，需要调试者具有一定的技术背景和实践经验。 此外，调试工具的使用也是不可或缺的部分。工具可以帮助获取图像的Exif信息，这些信息包括AE stats、Lvindex、ProcLuma、ProcTarget等，这些都是对AEC调试有帮助的数据。调试者可以利用这些信息来判断和调整相机的曝光参数。 整体来看，自研AE调试流程需要调试者对整个AEC系统有深刻理解，包括流程框架、参数设置、查找表设计、Target值计算等，这样才能在实际操作中针对不同拍摄场景，灵活地调整相机设置，达到最佳的拍摄效果。