我们根据Mohapatra–Rodejohann的相态约定，使用Sarkar和Singh提出的三个定相不变量I12，I13和I23，评估了一个普通的3×3复对称中微子质量矩阵的Majorana相。 我们发现它们很有趣，因为它们允许我们以模型独立的方式评估每个Majorana阶段，即使一个特征值是零也是如此。 利用一般复对称质量矩阵的特征值和混合角解，我们确定了中微子振荡整体拟合数据的约束条件以及三者之和的约束条件，从而确定了正态和反角两个层次的马约拉纳相。 轻中微子质量（Σimi）和无中微子双β衰变（ββ0ν）参数| m11 | 。 此后，在一些预测模型中针对分层案例（正态和倒立）均采用这种查找Majorana阶段的方法，以评估相应的Majorana阶段，结果表明，倒置层次结构部分中呈现的所有子案例都可以在模型中实现 在反向跷跷板的框架内具有纹理零和缩放ansatz，尽管尚未确定遵循正常层次的子情况之一。 除了准简并中微子的情况外，在任何中微子质量模型下，这项工作中获得的方法都能够评估相应的Majorana相。

测试性分析与评价是针对复杂系统或设备的一种关键能力，主要关注如何在设计阶段就考虑产品的测试性，以便于在后期的使用和维护过程中能够快速、准确地识别和定位问题。这一研究生课程主要涵盖以下几个核心知识点： 1. **测试性基础理论**：这涉及到对系统质量特性的理解，如可靠性、维修性、保障性、经济性和安全性等。测试性是这些特性中的一个关键组成部分，它关乎到产品能否被有效地测试和维护。系统要求和工程背景，包括任务目标、环境和约束，都是设计测试性的基础。 2. **故障与可靠性**：课程深入讲解了可靠性概念，如故障、故障率和平均无故障时间（MTBF）。同时，也介绍了故障模式分析（FMEA/FMECA）和故障树分析（FTA）等方法，用于预测和评估潜在故障。 3. **故障分类**：课程涵盖了不同类型的故障，如二值故障、间歇故障、重复故障、伪随机故障、完美故障和退化故障，这些都是设计测试策略时需要考虑的因素。 4. **维修性和保障性**：维修性是衡量产品易修复的程度，而保障性则关注产品在使用期间的可用性。课程会探讨这两个概念，以及它们对测试性设计的影响。 5. **测试性定义**：课程详细解释了测试性的多种定义，这些定义强调了产品状态的确定性、故障隔离能力和效率，反映了国际和国内标准的不同角度。 6. **测试性技术框架**：该框架展示了测试性设计和技术实现的全过程，包括需求确定、设计分析、试验评估和持续改进。它涵盖了固有测试性、机内测试、外部自动测试、人工测试以及故障预测和健康管理等技术手段。 7. **测试性设计目标**：课程明确了三个主要的设计目标：性能监测，即实时监控产品性能；故障检测，发现产品中的故障；故障隔离，定位故障到可更换的组件，便于维修。 通过这些知识点的学习，学生将掌握如何在系统设计阶段融入测试性原则，从而提高系统的可维护性和可靠性。考试形式包括开卷笔试、调研报告和上机试验，考核学生的理论理解和实践应用能力。在撰写调研报告时，要求内容充实，表达清晰，并遵守学术诚信。通过这门课程，学生不仅能掌握测试性分析与评价的专业知识，还能提升其在实际工程问题中的解决能力。

IDDQ测试（1） 为了检测CMOS电路中的某一个故障, 首先必须生成能激活该故障的IDDQ测试向量，该IDDQ 测试向量必须在该故障条件下能够制造一条或多条由VDD到VSS的低电阻通路，相当于电压测试中的故障激活和传播 但是同电压测试不一样，IDDQ 测试不需要把故障效应传播到原始输出端，因为IDDQ 测试并不在原始输出端，这是IDDQ实际应用时的方便之处 缺点 需要精确地测量电流 由于IDDQ的稳定需要一定时间，所以测试速度慢

MBIST：测试算法 在MBIST中，重要的测试算法是March算法，包括MATS+、MarchC-、MarchA、MarchB等 例子：MarchC-算法的基本步骤 ↕ (W0)；↑(R0, W1)；↑(R1，W0)；↓(R0, W1)；↓(R1,W0)；↕ (R0) 其中，↕表示操作地址上行或下行，↓表示地址下行，↑表示地址上行，W0和W1分别表示写入“0”和“1”，R0和R1分别表示读出的期望值是“0”和“1”。对每个存储单元进行完括号中包含的所有操作后才处理下一个单元。

数字系统测试和可测试性设计英文原版

测试性要求 定量要求：包括故障检测率、故障隔离率、故障检测时间、故障隔离时间和虚警率等。 定性要求：包括测试可控性、测试观测性和被测单元（UUT）与测试设备的兼容性等。

内建自测试技术（BIST）

中科院研究生院课程 VLSI测试与可测试性设计， 李晓维中科院计算技术研究所，全部课件！！

一本很好的学习VLSI测试的书-- VLSI测试方法学和可测性设计

非常详细的DFT入门资料，详细介绍了常见的DFT模型，以及Scan mode测试技术。最后介绍了ATPG Flow。