提出一种功耗限制下测试端口选择优化的方法，从而缩短测试时间。以系统功耗确定测试端口对数，以内核测试占用网络资源最少和测试时间最短为目标，为被测核选择端口位置。利用云进化算法对不同端口位置组合寻优，快速收敛到适应值最佳的测试端口组合，完成测试方法研究。以ITC’02基准电路作为实验对象，针对不同规模NoC，实验结果表明，这种方法提高了测试效率，缩短了测试时间，降低了测试代价。
2023-10-23 22:17:10
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