为提高掘进机的截割效率和运行可靠性,降低截割能耗、载荷波动率及截割产尘量,以纵轴式掘进机截齿个数、截线间距、截割转速、摆动速度以及周向分布角为设计变量,采用掘进机的截割比能耗、载荷波动率、截割单位产尘量最小为优化目标,将可靠性灵敏度融入不完全概率信息的截割头可靠性鲁棒设计中,利用随机摄动法和Edgeworth级数方法对掘进机截割头参数进行可靠性优化,采用混合粒子群算法进行模拟可靠性运算,研究结果表明:该方法解决了不完全概率信息的掘进机截割头鲁棒设计问题,在不降低掘进机截割效率和可靠性条件下,截割头的载荷波动率下降31.8%和比能耗降低4.0%,单位产尘量降低14.2%.

【电感可靠性测试】 在电子元件的生产和设计中，可靠性测试是至关重要的一个环节，它确保产品能够在预期的环境条件下长期稳定工作。本篇报告详细介绍了针对电感元件的可靠性测试，具体包括高温实验、低温实验、耐压试验以及可焊性测试，这些都是评估电感元件性能和耐用性的重要指标。 1. **高温实验**： - 实验条件：将电感产品EE1606-3.4mh平脚置于100±2℃的环境中，持续4小时，然后在室温下冷却3小时进行测试。 - 目的：检验电感在高温环境下的稳定性，如电感值和直流电阻的变化。 - 结果：报告中给出了不同样品在高温后的电感值和直流电阻，所有样品均在允许的公差范围内，表现出良好的热稳定性。 2. **低温实验**： - 实验条件：将电感置于-25±2℃的低温环境中，同样持续4小时后在室温下冷却3小时进行测试。 - 目的：测试电感在极端低温条件下的物理特性和电气性能是否保持稳定。 - 结果：虽然未给出具体数值，但低温实验也是为了验证电感在低温环境下的可靠性和功能完整性。 3. **耐压试验**： - 实验条件：施加1100VAC的电压于线圈与磁性部件之间，持续5秒，电流限制为25mA。 - 目的：检查电感在高电压下的绝缘性能和安全性，防止击穿或短路。 - 结果：所有样品在1100VAC和1500VAC电压下均未发生击穿，证明电感的绝缘性能良好。 4. **可焊性测试**： - 实验条件：使用480±10℃的锡炉，浸锡时间为2.5±0.5秒，并清除锡面的氧化层。 - 目的：验证电感能否顺利焊接在电路板上，以及焊接后的连接强度。 - 结果：依据凯耀公司的检验标准，电感显示出良好的可焊性，能够保证良好的焊接效果和连接可靠性。 这些实验按照GB/T系列国家标准进行，确保了测试的严谨性和一致性。通过这些严格的测试，可以确认电感元件EE1606-3.4mh平脚在各种环境条件下具有较高的可靠性，能够满足客户的品质需求。对于电感制造商来说，定期进行这样的可靠性测试是保证产品质量、提升品牌信誉和市场竞争力的关键步骤。同时，这些测试数据也为产品的持续改进和优化提供了重要的参考依据。

AEC-Q100（Automotive Electronics Council-Q100）是汽车电子委员会发布的一套测试标准，旨在对汽车电子芯片进行可靠性和性能评估。它包括一个主标准和12个子标准（从001到012），共分为13个测试序列。这些测试序列涵盖了多个维度，以确保芯片在汽车环境下的可靠性和稳定性。 AEC-Q100标准是汽车电子领域中至关重要的一个部分，它规定了汽车用集成电路（ICs）的可靠性测试流程和标准。该标准由汽车电子委员会制定，目的是确保汽车用电子芯片能够经受得起恶劣的工作环境考验，提供稳定可靠的性能。AEC-Q100涵盖了广泛的测试项目，这些测试项目围绕失效机制进行设计，旨在模拟汽车使用环境下可能出现的各种情况。 AEC-Q100测试标准总共包括13个测试序列，这些序列可以分为12个子标准（编号从001到012）。每个子标准都对应于特定的测试项目，它们对芯片在不同方面的性能和稳定性进行评估，如高温、高温循环、机械冲击、温度循环、湿度、腐蚀、机械振动等。通过这些严苛的测试，能够确保芯片在各种极端条件下仍然能够可靠工作。 AEC-Q100标准中所包含的测试项目不仅对芯片的物理特性进行考验，还包括了电气特性的检验。这样的综合测试方法确保了芯片在汽车电子产品中的稳定性和安全性。标准中还定义了零件的运作温度等级，以及能力指标Cpk等重要参数，从而保证了芯片能够在预定的温度范围和性能指标内安全运行。 AEC-Q100标准的应用确保了汽车电子芯片具有足够的可靠性，它为汽车制造商、供应商以及集成电路设计公司提供了一个共同的参考标准，保证了汽车电子系统的质量和性能。随着汽车行业的不断进步，AEC-Q100也在持续更新和改进，以适应新的技术和市场要求。例如，最新的AEC-Q100 Rev-J版本，它引入了更新的技术要求和测试程序，以确保汽车芯片测试能够跟上不断发展的汽车电子技术的步伐。 AEC-Q100标准通过一系列严格的测试流程，保证了汽车用集成电路的高可靠性和长寿命。这不仅提高了汽车的性能和安全性，还对汽车行业的持续发展做出了重要贡献。所有与汽车电子相关的制造商、设计师和工程师都需要严格遵守AEC-Q100标准，以确保其产品能够在激烈的市场竞争中脱颖而出。

GJB Z 299D-2024 是一本专门针对电子设备可靠性预计的专业手册。该手册提供了电子设备在设计、生产及运行维护等各个阶段可能遇到的可靠性和相关问题的解决方法，是电子设备可靠性预计工作的权威指导文件。 在该手册中，详细介绍了电子设备可靠性预计的概念、意义、方法和过程。其中，可靠性预计是利用已知或假设的数据来预测一个电子设备在规定条件下和规定时间内保持功能正常的概率。这个过程要求对电子设备的设计、元器件、制造工艺、使用环境等各个环节有全面深入的了解。 电子设备的可靠性预计可以有效指导电子设备的设计和改进。通过预计，可以发现设计中存在的潜在风险，对风险进行评估，并据此采取相应的预防措施和改进措施，从而提高设备的可靠性。 GJB Z 299D-2024 在电子设备可靠性预计中所使用的方法多种多样，常见的有基于故障模式的预计方法、基于元器件的预计方法、基于应力分析的预计方法等。每一种方法都有其适用的条件和限制，手册中对这些方法的理论基础、计算步骤和适用范围都有详细的介绍。 手册不仅提供了各种预计方法的理论框架，还提供了大量的实例分析和计算公式。通过对实际案例的分析，可以使读者更好地理解各种预计方法的具体操作过程，提高其解决实际问题的能力。 此外，GJB Z 299D-2024 还包含了一系列电子设备可靠性相关的术语和定义，为读者理解文档内容和进行可靠性分析提供了便利。同时，手册还介绍了在预计过程中可能遇到的数据来源问题、数据可靠性问题和数据应用问题等，为电子设备可靠性预计工作的开展提供了全方位的指导。 在应用方面，GJB Z 299D-2024 的方法不仅限于军工领域，也被广泛应用于民用领域。由于手册强调对元器件级、电路级和系统级的可靠性预计，因此，其内容对于航空航天、通信、计算机和汽车电子等行业具有重要的参考价值。 在维护和更新方面，随着电子技术的不断发展和应用环境的日益复杂化，GJB Z 299D-2024 也会随着电子设备可靠性的新理论、新技术和新方法的出现而不断更新和修订。这保证了其内容始终处于电子设备可靠性预计领域的前沿，能够满足当前和未来电子设备可靠性研究和应用的需要。 GJB Z 299D-2024 电子设备可靠性预计手册是一份重要的技术文献，它集中反映了电子设备可靠性预计的最新研究成果和实践经验。对于电子工程师、可靠性分析人员以及电子设备设计和维护人员来说，它是不可或缺的工具书，对提升电子设备的可靠性具有重大意义。

核心内容提炼 该课件系统阐述了硬件可靠性设计的核心理念与方法，强调“可靠性是设计出来的而非测试修补的”（钱学森观点）。内容涵盖六大模块： 设计流程革新：传统研发流程（问题驱动修改）转向DFX（Design for X）流程，将可靠性前置到需求分析、器件选型等早期阶段，通过仿真、降额审查等手段预防问题。 DFX框架：详解20余种DFX维度（如DFR可靠性设计、DFM可制造设计），以产品全生命周期为核心，覆盖成本、环境、供应等非功能需求。 关键技术方法： 冗余设计：通过主备倒换（如双机备份）、空间/时间冗余提升系统容错。 降额设计：规范电阻、电容、电感等器件的应力余量（如钽电容耐压降额50%），降低失效风险。 器件失效分析：剖析电阻硫化、MLCC机械裂纹、钽电容爆炸等物理机制，指导选型规避（如避免大封装陶瓷电容）。 测试与分析：包括气候试验（盐雾/温循）、信号完整性/电源完整性仿真、FMEA分析等验证手段。 物理根源认知：从材料特性（如银电极硫化）和结构（如铝电解电容防爆阀）理解不可靠性本质。 五大关键词 DFX设计 降额规范 冗余容灾 失效物理机制 电源完整性 价值亮点 实践导向：结合华为/中兴等案例（如芯片断供），提出可供应性设计策略。 跨学科融合：整合电路设计、材料科学、热力学（如热阻计算）解决可靠性问题。 设计范式变革：通过IPD流程（集成产品开发）将可靠性嵌入硬件开发全节点，降低后期修复成本。 摘要总结：课件以“预防优于修正”为核心，从流程、方法、物理层三位一体构建硬件可靠性体系，为高可靠电子系统提供设计范式与工程实践指南。

程式内置GJB/Z 299D-2024工作状态计数法国产和进口器件全部通用失效率数据，自匹配质量系数。299D主要功能特性： ①国产+进口共计66个器件大类，299C仅38个 ②器件通用失效率（器件数量）较299C增加约50% ③扩展了多个器件的分类，如新增 GaN等 ④扩展了集成器件门/晶体管的数量范围 ⑤全面更新了器件通用失效率 ⑥细化了部分质量系数 ⑦其他元器件类别为应力分析法与元器件计数法共用 ⑧可通过导出功能导出空白模版，添加器件信息后导入，提升器件信息的录入效率 ⑨暂时中断工作时，可通过导出功能，进行工作存盘，继续工作时导入 ⑩支持添加、编辑、删除、导入、菜单导出、右键导出等实用功能

IEEE Std 2851-2023 用于可靠性生命周期内互操作性的 IEEE 功能安全数据格式标准 IEEE Standard for Functional Safety Data Format for Interoperability within the Dependability Lifecycle IEEE Std 2851-2023 标准旨在提供一个功能安全数据格式，以支持可靠性生命周期内的互操作性。这一标准不仅关注产品的可靠性生命周期，还特别强调与功能安全相关的互操作活动，以及功能安全与可靠性、安全性、操作安全和时间确定性之间的交互作用。在这一框架下，标准提出了若干关键方法、描述语言、数据模型和数据库架构，这些元素被认定为实现生命周期各阶段数据交换/互操作性的必要或核心内容，其中包括了从知识产权(IP)、系统芯片(SoC)、系统到具体项目级别所执行的活动。该标准支持在汽车、工业、医疗和航空等不同应用领域中，将数据整合进各种安全关键系统。 为了促进不同系统和应用领域之间的数据互操作性，IEEE Std 2851-2023 描述了从概念阶段到产品退休阶段的整个产品生命周期。在这一生命周期中，功能安全数据的交换和互操作性对于产品和服务的成功至关重要。该标准的实施将有助于减少由于数据格式不兼容导致的沟通障碍，促进不同组织和团队之间的有效协作，以及提高产品在设计、生产、部署和维护过程中的安全性。 此外，该标准还通过提供标准化的方法和工具来支持故障模式及效应分析(FMEDA)，这是一种系统安全分析技术，用于评估产品故障对系统性能的影响。通过标准化FMEDA过程，该标准有助于在不同组织间建立通用的理解，以及在不同行业间共享关键的安全知识和数据。 IEEE Std 2851-2023 对于系统工程和安全工程领域的影响是深远的。它不仅有助于提高产品和服务的整体可靠性，还为安全关键系统的设计和运行提供了重要的指导。通过这一标准，制造商和供应商能够更加高效地合作，确保其产品能够在各种环境中安全可靠地运行。 IEEE Std 2851-2023 为功能安全数据的格式和交换提供了一个国际认可的框架，这对于促进跨领域的技术合作和安全关键系统的设计与部署具有重要意义。它不仅加强了系统和产品在全生命周期内的可靠性，也提高了不同应用领域内对于安全性的认识和管理。通过该标准，相关企业能够降低安全风险，减少开发成本，缩短产品上市时间，最终为终端用户带来更安全、更可靠的产品和服务。

威布尔参数计算工具：支持实验设计与评估，最大似然估计，实验时间预测及实际可靠度评估基于excel模板与matlab代码,基于威布尔分布的可靠性实验参数计算与评估：最大似然估计、试验时间设计与评估,weibull威布尔计算，可靠性实验，最大似然估计参数，支持输入可靠度，置信度，样本数量等参数，计算需要的试验时间。 支持理论公式推导。 1、如果只要excel模板，支持可靠性试验设计，可设置时间，样品数量等预估待测时间，样品数量等 2、支持实验后，评估实际可靠度，matlab代码 ,Weibull计算; 可靠性实验; 最大似然估计参数; 输入参数（可靠度、置信度、样本数量）; 试验时间计算; 理论公式推导; Excel模板; 实验后评估实际可靠度; Matlab代码。,威布尔计算与可靠性实验：参数估计与实际评估的Excel与Matlab解决方案

人工智能在可靠性中的应用概述.pptx

本书由Jeffrey Voas和Gary McGraw撰写，旨在为读者提供软件故障注入技术的全面综述。作者强调故障注入在提高软件测试质量、安全性、维护性等方面的重要性，并通过理论与实例相结合的方式，逐步引导读者了解并掌握各种故障注入技术。书中首先介绍了软件故障注入的基本概念和理论，随后详细阐述了包括变异测试、PIE、EPA和AVA等在内的多种故障注入技术。此外，作者还讨论了如何将故障注入技术应用于COTS组件的质量评估和软件维护中。尽管书中存在一些对故障注入成本和实证数据缺失的批评，但总体而言，本书被认为是高完整性软件开发领域的重要参考文献。