1、循环校验码（CRC码）：是数据通信领域中最常用的一种差错校验码，其特征是信息字段和校验字段的长度可以任意选定。
2、生成CRC码的基本原理：任意一个由二进制位串组成的代码都可以和一个系数仅为‘0’和‘1’取值的多项式一一对应。例如：代码1010111对应的多项式为x6+x4+x2+x+1，而多项式为x5+x3+x2+x+1对应的代码101111。
3、CRC码集选择的原则：若设码字长度为N，信息字段为K位，校验字段为R
2023-10-30 23:41:03
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CRC是英文Cyclical Redundancy Check的缩写，翻译成中文通常称作循环冗余校验或简称为CRC校验。它是数据传输领域中最常用的一种差错校验方法，其特点是传输数据和CRC校验值的长度可以任意选定。在当今手机、计算机和数码产品普及的信息数字化时代，CRC校验无处不在。CRC分为多种标准，例如：CRC -12码通常用来传送6-bit字符串。
2023-07-06 10:45:53
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摘要 通信的目的是要把信息及时可靠地传送给对方，因此要求一个通信系统传输消息必须可靠与快速，在数字通信系统中可靠与快速往往是一对矛盾。为了解决可靠性，通信系统都采用了差错控制。本文详细介绍了循环冗余校验CRC（Cyclic Redundancy Check）的差错控制原理及其算法实现。
关键字 通信 循环冗余校验 CRC-32 CRC-16 CRC-4
概述
。。。。。
2022-07-05 08:44:07
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crc校验文档，crc32的推导过程，便于理解crc。8bit并行产生CRC32位校验码。加在输入数据的最后。
例如，连续输入256bit后产生的32位校验码需要加在256bit之后。原始输入的数据按原型输出。(根据IEEE协议需要把CRC的结果进行按位取反)
2021-10-28 20:48:28
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NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现NAND_FLASH_ECC校验原理与实现
2021-10-06 02:44:00
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