IGBT以其输入阻抗高,开关速度快,通态压降低等特性已成为当今功率半导体器件的主流器件,但在它的使用过程中,精确测量导通延迟时间,目前还存在不少困难。在介绍时间测量芯片TDC-GP2的主要功能和特性的基础上,利用其优良的特性,设计一套高精度的IGBT导通延迟时间的测量系统,所测时间间隔通过液晶显示器直接读取,是一套较为理想的测量方案。 关于IGBT（绝缘栅双极型晶体管）的导通延迟时间精确测量方法，这个问题在功率电子技术领域具有重要意义，因为IGBT作为功率半导体器件的主流选择，其开关速度、导通延迟等特性直接影响到系统性能。在某些高速、高精度的应用中，如电力变换、电机控制等，对IGBT的导通延迟时间要求非常严格。 传统的测量方法可能无法满足高精度的需求，因此，引入了时间测量芯片TDC-GP2，这是一种由德国ACAM公司研发的高精度时间间隔测量芯片。TDC-GP2以其卓越的精度、小巧的封装和适中的成本，成为了实现IGBT导通延迟时间精确测量的理想选择。该芯片内部结构包括脉冲发生器、数据处理单元、时间数字转换器、温度测量单元、时钟控制单元、配置寄存器和SPI接口，可以实现对微小时间间隔的精确捕捉和计算。 TDC-GP2的工作原理是基于内部模拟电路的传输延迟，通过START和STOP信号之间的非门传输时间来测量时间间隔。为了减小温度和电源电压变化带来的影响，芯片内置了锁相电路和标定电路，以提高测量的稳定性和精度。其分辨率高达50 ps，测量范围从2.0 ns到1.8 μs，支持上升沿或下降沿触发，并具备强大的停止信号生成功能。 测量IGBT的导通延迟时间，首先需要获取控制信号、驱动信号和导通电流信号，然后通过信号处理隔离电路输入到TDC-GP2。控制信号作为START输入，驱动信号和导通电流信号分别作为STOP1和STOP2输入。通过分析START与STOP1、START与STOP2之间的时间差，即可得到IGBT的导通延迟时间。 设计的测量系统硬件主要包括脉冲信号取样器、信号整形电路、TDC-GP2测量电路、单片机、液晶显示、电源和时钟电路。TDC-GP2的每个测量通道都有独立的使能引脚，可以根据需要选择测量通道。系统软件设计则涉及到测量单元的启动和停止逻辑，通过环形振荡器和计数器计算时间间隔，最终在液晶显示器上显示测量结果。 这种基于TDC-GP2的测量方案，相较于传统方法，具有外围器件少、电路结构简洁和功耗低的优势，对于提升IGBT导通延迟时间的测量精度和效率具有显著效果，是嵌入式开发和功率电子技术领域的一个重要进展。

精确测量4H-SiC光电导开关光电导性能的新方法

基于三棱镜折射率的测量原理, 采用最小偏向角法、掠入射法和垂直底边入射法对折射率相对不确定度进行理论研究。结果表明, 折射率相对不确定度随三棱镜顶角的增大而减小, 不同波长的光对折射率相对不确定度的影响较小, 折射率的相对不确定度随角度测量不确定度的增加而变大。而且在使用最小偏向角法时, 最小偏向角位置附近偏向角随入射角的改变变化不明显, 但偏向角不明显变化的范围随三棱镜顶角的增大而减小。最后, 给出了可获得折射率最小相对不确定度的最优方案, 为三棱镜折射率的精确测量提供了理论依据。

理想的激光功率测量装置应是紧凑、方便而准确，并且可以直接测量激光器的最大功率而不发生破坏或性质的变化。虽然激光功率计也具有象激光器一样长的发展史,但上述要求还是不能完全满足，已有的各种测量装置和方法，有的不够准确方便，有的不能承受激光的最大功率(最大功率往往是测量最感兴趣的)。本文介绍激光功率精确测量的现状、及所需不同激光功率和功率密度范围的测量装置。

提出了利用加速度通过频域一时域混合积分法精确测量动位移的方法。此方法克服了传统的时域内两次积分会产生较大累积误差，从而频域内两次积分产生较大低频误差的弊端。实测加速度数据积分结果与位移传感器实测数据的对比表明，采用加速度的频域一时域混合积分法能够精确测量动位移。

一个简单的块，可以准确地测量单相电源相位。您只需将电路中的电压和电流连接到块上，它就会显示电压和电流之间的相位差。 此模块可用作实用程序模块，并可用作任何 simulink 模型中的子系统。 该模块是为离散仿真类型设计的。 为了在其他领域使用它，需要进行一些修改。

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