KC705是一款由Xilinx公司推出的开发板，主要用于FPGA（Field-Programmable Gate Array）设计和验证。这款开发板集成了丰富的接口和功能，使得用户可以在硬件平台上实现复杂的数字系统设计。BIST（Built-In Self Test）是电子系统中一种常见的测试技术，它允许设备在制造或运行过程中自我检测，以确保硬件的正常运行。 在这个名为"kc705-bist-rdf0102-14.4.zip"的压缩包中，包含的是与KC705开发板相关的BIST设计示例资源。这些资源可能包括Verilog或VHDL代码、配置文件、测试平台、文档等，帮助用户理解和实现BIST功能在FPGA上的应用。 “kc705_bist”可能是压缩包中的主要目录，包含了与KC705开发板BIST相关的所有文件。这些文件可能包括： 1. **设计文件**：如`.v`或`.vhd`文件，这些是用硬件描述语言编写的BIST逻辑代码，实现了自动测试模式生成器和响应分析器，可以检测FPGA内部逻辑的正确性。 2. **约束文件**：`.xdc`文件用于指定设计的时序约束和其他硬件限制，确保设计能够在KC705开发板上正确配置和运行。 3. **仿真模型**：`.vlog`或`.v`文件可能包含仿真模型，用于在软件环境中验证BIST设计的功能和性能。 4. **配置文件**：`.bit`或`.jic`文件是FPGA的配置文件，包含了编译后的设计，可以加载到KC705的FPGA中，激活BIST功能。 5. **测试平台**：`.tcl`或`.do`脚本可能用于自动执行编译、仿真、配置和测试流程。 6. **文档**：“kc705-Example Designs.pdf”可能是详细的设计指南或用户手册，提供了如何使用这些资源的说明，包括BIST设计原理、配置步骤、测试方法以及如何解读测试结果等内容。 学习和使用这些资源，开发者能够了解如何在Xilinx的KC705开发板上集成和实现BIST功能，从而提升系统可靠性，降低测试成本，并且在系统设计初期就能发现潜在的问题。这对于FPGA开发者来说，是一个非常有价值的实践案例，有助于提升其在硬件测试领域的技能。

引言 　　大多数IC设计工程师都了解数字BIST的工作原理。它用一个LFSR（线性反馈移位寄存器）生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器，将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用相同的触发器捕获响应，将移出的结果压缩成一个数字标志，再将其与一个正确的标志作逐位对比。尽管工业逻辑BIST的细节要更复杂，但基本原理仍适用于多时钟域、多周期延迟路径，以及电源轨噪声等。 　　1 “模拟”的定义 　　“模拟”电路对不同的人有不同的含义。一个PLL或SERDES（串行器/解串器）可以看作是数字的，模拟的，或混合信号的。对这些单元的BIST测试可以是纯数字的，因为这些功能只有数

BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用,介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后，讨论了MereBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点，分析了这几种测试方法的优缺点。

1, XILINX ZC706评估板 应用文档 2，详细介绍了ZC706的build-in selftest flash的测试方法和流程 3,有助于ZC706评估板的学习开发 4,适合于初学者和进阶者

引言 　　随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中越来越广泛的使用，可测性设计(DFT)的功耗问题引起了VLSI设计者越来越多的关注。因为在测试模式下电路的功耗要远远高于正常模式，必将带来如电池寿命、芯片封装、可靠性等一系列问题。随着集成电路的发展，内建自测试(BIST)因为具备了诸多优越性能(如降低测试对自动测试设备在性能和成本上的要求、可以进行At—speed测试及有助于保IP核的知识产权等)，已成为解决SoC测试问题的首选可测性设计手段。 　　在BIST中常用线性反馈移位寄存器(LFSR)作为测试模式生成器(TPG)。LFSR必须产生很长的测试矢量集才能满足故障覆盖率的要求，但这些矢

用于zc706开发板开发的代码，主要是设置开发板相应的启动和挂载项目

DFT的matlab源代码DIST的BIST应用 随附的项目文件是指创建用于测试任何组合电路的内置自测。该代码用VHDL硬件描述性语言编写。 在我的示例中，被测电路（CUT）是一个4位乘法器以及一个六阶LFSR和MISR，以使系统可以在片上进行测试。

以固定形式扫描存储器阵列 其中包括全写0或者全写1情况，最后一步为读取所有存储单元。测试次数与存储单元容量N成正比，关系为测试次数T=4N。这种算法可以测试SAF故障，还可为施加其他测试序列做好准备。

内建自测试技术（BIST）

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