被动合成孔径技术中的扩展拖曳线列阵测量方法 ( ex tended-tow ed-array measurements metho d, ET AM )合成出比实际物理孔径大得多的有效 孔径 ,从而突破阵列孔径的限制 ,获得比物理孔径高得多的方位分辨力 .