半导体晶圆缺陷检测是半导体制造过程中至关重要的环节，它能够帮助制造商及时发现晶圆表面存在的缺陷，并据此采取措施避免不合格品流入下一道工序。为了支持相关研究与开发，目前存在一个名为waferMap的半导体晶圆缺陷数据集，该数据集提供了13000张标注了各种缺陷的图片，用于目标检测模型的训练与测试。 waferMap数据集的图片格式为JPEG，且包含了对应标注信息的xml文件，适合于使用VOC（Visual Object Classes）格式进行处理。同时，为了兼容YOLO（You Only Look Once）这种流行的目标检测框架，该数据集也提供了YOLO格式的标注文件。具体来说，数据集包含了三个主要的文件夹，分别是存放图片的JPEGImages文件夹、存放标注信息的Annotations文件夹和存放类别信息的labels文件夹。 在标注文件的组织上，waferMap遵循矩形框的标注方式，每个缺陷都被标记为九种类别之一，分别包括Center（中心）、Donut（甜甜圈）、Edge-Loc（边缘位置）、Edge-Ring（边缘环）、Loc（局部）、Near-full（接近满）、None（无）、Random（随机）和Scratch（划痕）。每一种缺陷类别都有相应的框数，如Center缺陷有2147个矩形框，Donut缺陷有555个矩形框等等，这些矩形框用于指示图像中各个缺陷的位置和范围，以供目标检测模型学习识别。 数据集所包含的图片分辨率是清晰的，并且图片没有进行增强处理。由于图片清晰且标注准确，这为研究人员和工程师提供了一个高质量的数据源用于开发和验证他们的缺陷检测算法。此外，标签种类数为9类，这表明该数据集覆盖了晶圆上可能出现的多种不同类型的缺陷。 值得注意的是，尽管该数据集提供了丰富的缺陷标注和高质量的图片，但使用该数据集训练得到的模型或权重文件的精度如何，数据集本身并不提供任何保证。因此，研究人员在使用该数据集时应当注意这一点，并自行进行模型精度的评估和验证。 waferMap半导体晶圆缺陷数据集是半导体行业缺陷检测研究中一个宝贵的资源。它不仅包含了大量的标注图片，而且涵盖的缺陷类型全面，极大地便利了相关领域的研究工作。通过对这些图片和标注的学习和分析，研究人员可以训练出更高精度的缺陷检测模型，从而提高整个半导体制造过程的质量控制水平。

针对TSK/TEL/PT301探针台所生成原始MAP在转换成简单易读的TXT/BMP/XLSmap 1、本软件完全免费 2、支持软件功能定制（必要时提供技术支持） 3、提供特殊软件（如TEL-P08/P12 DEVICE生成及修改软件）-->软件属于日本东京电子 4、本次软件更新时间2021-12-10

针对TSK/TEL/PT301探针台所生成原始MAP在转换成简单易读的TXT/BMP/XLSmap

此软件采用易语言编写（源码），可以转换TSK探针台产生MAP原始文件，转换为BitMAP（bmp图片格式），有兴趣的小伙伴可以下载来测试或是改进，附测试MAP文件。