本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。

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IC测试原理解析(第二部分) http:www.guangdongdz.com  2006-06-23   芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片的基本测试原理，描述了影响芯片测试方案选择的基本因素，定义了芯片测试过程中的常用术语。本文将讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上。接下来的第三章将介绍混合信号芯片的测试，第四章会介绍射频/无线芯片的测试。存储器和逻辑芯片的测试存储器芯片测试介绍存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或者是二者的结合等。

ICT测试原理，方法，相当详细，非常适合深入学习ICT，将单个元器件的测试与功能完美的结合在一起

脉冲群的实验方法和原理以及脉冲群的防防护，属于EMS范围，电磁抗干扰也是EMI里面的一部分，希望可以对你有所帮助

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清华大学的课程讲义，课程名称 ：射频电路测试原理，如果想了解更多关于射频电路、仪器使用、仪器原理的知识，可以下载看看。

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