完整英文版 IEC 60749-13：2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13：Salt atmosphere(半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第13部分：盐雾）。IEC 60749-13:2018 描述了一种盐气氛测试，用于确定半导体器件的耐腐蚀性。 这是一个加速测试，模拟严重的海岸大气对所有暴露表面的影响。 它仅适用于指定用于海洋环境的那些设备。 盐雾试验被认为是破坏性的。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： a) 与 MIL-STD-883J 方法 1009.8，盐环境（腐蚀）保持一致，包括有关试验室的调节和维护以及试样安装的信息（包括说明图）。

盐雾是一种破坏性的，加速的应力，它模拟了严酷的海岸气氛对所有裸露表面的影响。 这样的应力和应力后测试确定了固态器件的耐腐蚀性，并且可以在模制或密封包装中的商业和工业产品上执行。

GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法。国军标对电子及电子元件的可靠性试验方法。盐雾实验，温湿度试验、跌落、振动等试验方法。

Q-FOG循环腐蚀盐雾箱可以在30分钟内从盐雾状态转换为低于30%RH状态，在15分钟内相对湿度从低于30%快速升高，达到95%RH以上，只有Q-FOG快速交变循环腐蚀盐雾箱能做得到并严格符合JASO M609的要求。Q-FOG是最适合汽车工业的循环腐蚀盐雾箱！

GB/T 2423-2008电工电子产品环境试验，最新版的了，有相对关键的4个部分。