软件测试原理与实践

对Appium的发展历史、安卓端测试原理进行讲解，同时简要介绍了Appium的安装配置与使用流程。

本文章是关于TDR的测试原理。

lcr测试仪测量原理　　Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。自平衡电桥的意思是：当DUT（DeviceUnderTest）接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。Vx准确测定DUT两端电压（DUT的Low电位是0），Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。　　HP4275的测试端Hp，Hc，Lp，Lc（下标c代表current，下标p代表Potentail），Guard（接地）的配置可导致测试的误差的差异。　　提高精度的方法是：1，Hp，Lp，Hc，Lc尽量接近DUT;2，减小测试电流Ix的回路面积&磁通量（关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable化回路面积）

前言: 微电流在探索、测试、研究领域，用途广泛，是打开电子测试微观领域的一把钥匙。人类探索微观电流世界的过程从pA级到fA，再到aA，现已经进入单个电子时代。人们往往认为，DIY一个1pA测试器是需要经历巨大挑战的。本文试图说明，通过适当的方法和传统而简单的成熟技术，不仅可以很好的解决了测试1pA的问题，同时可以把测试下限做到1fA以下，进入aA领域。 电路图及说明: 用电池供电，微功耗设计； 电池选9V，用低压差低功耗的HT7150三端稳压成5V，自耗电<4uA； 然后用双运放的一半，把5V分成±2.5V双电源，这部分耗电<22uA； R3和R4把-2.5V分压成100mV作为标准电压，由R5=100G提供测试用的1pA标准电流。这部分耗电5uA； 最后，双运放的另一半接成经典负反馈I-V转换电路，这部分耗电16uA； 运放采用LMC6062AIN，很便宜的东西，典型Ib=10fA，典型Vos=100uV，耗电32uA； 运放也可以用LMC6042AIN，很便宜的东西，典型Ib=2fA，典型Vos=1000uV，耗电20uA； R6提供保护，不至于因偶然输入过压而导致运放损坏； R7是反馈电阻，C4是反馈电容，用于抵消输入电容的影响，提高响应时间，同时也与R7一起提供一定的时间常数。 合计耗电<47uA，一节9V充电电池（350mAh）可以使用7000多个小时。如果换用LMC6042AIN，总耗电<35uA，电池可以使用10000小时。 更多介绍:https://bbs.21ic.com/icview-245474-1-1.html 基于LMP7721的微电流测试原理图截图:

详尽介绍了wifi-bt测试中的测试标准以及测试项目

soft test 的经典书籍，测试数字信号必备的书籍

大家都看过SoftTest出版的半导体测试原理一书，那确实是一个经典。这份是测试机巨头Teradyne出品的半导体测试原理，这份教程与ATE的结合更加紧密，与当前的半导体测试现状更加接近。 490页的PTT值得一看： 1. Introduction to Semiconductor Testing 2. Project Plan, Specifications and Test Program 3. DC Parameters Test (including Continuity Test) 4. Digital Functional Test 5. AC Parameters Test 6. Introduction to Mixed Signal Testing 7. ADC and DAC Test 8. Debug Tools and Debugging 9. Introduction to Design-For-Testability

介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括电气特性测试原理和功能测试原理，详细地介绍了通 用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常 见的故障分析

完整英文版 IEC 60300-3-5：2001 Dependability management - Part 3-5：Application guide - Reliability test conditions and statistical test principles （可靠性管理-第3-5部分：应用指南-可靠性测试条件和统计测试原理）。为可靠性测试的规划和执行以及使用统计方法分析测试数据提供指南。 描述了与维修和非维修项目相关的测试，以及恒定和非恒定故障强度和恒定和非恒定故障率的测试。 这些测试的目的是发现设计中的弱点并采取措施消除这些弱点，从而提高性能、质量、安全性、稳健性、可靠性和可用性并降低成本。