完整英文版 IEC 60747-5-10:2019 Semiconductor devices - Part 5-10:Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point ( 半导体器件 - 第5-10部分:光电器件 - 发光二极管 - 基于室温参考点的内量子效率测试方法 )。IEC 60747-5-10:2019(E)规定了无荧光粉的单个发光二极管(LED)芯片或封装的内部量子效率(IQE)的测量方法。用于照明的白光LED不属于本文件的范围。本文件仅利用在操作室温度下测量的相对外部量子效率(EQE)。为了确定参考IQE,找到对应于注入效率为100%的工作电流,辐射效率由该点的相对EQE的无穷变化决定。然后根据EQE与参考点数值的相对比值计算作为电流函数的IQE,这被称为室温参考点法(RTRM)。
2021-08-03 09:32:10 853KB iec 60747-5-10 半导体 发光二极管
完整英文版 IEC 60747-5-11:2019 Semiconductor devices - Part 5-11:Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes(半导体器件 - 第5-11部分:光电子器件 - 发光二极管 - 发光二极管的辐射电流和非辐射电流的测试方法)。IEC 60747-5-11:2019(E)规定了单个发光二极管(LED)芯片或无荧光粉封装的辐射电流和非辐射电流的测量方法。用于照明的白光LED不属于本文件的范围。本文件利用内部量子效率(IQE)作为电流的函数,其测量方法在其他文件中讨论。
2021-08-03 09:32:09 780KB iec 60747-5-11 半导体 发光二极管
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