基于QT的文本编辑器 基于QT的文本编辑器 一个比较简单的程序 供大家参考
2022-09-02 10:54:40 514KB 文本编辑器
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Delphi 基本遗传算法 Delphi 基本遗传算法
2022-08-31 22:11:47 44KB 遗传算法
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项目文件ADTDemo_VC,包括了SBS提供的ADT680卡的加载设备驱动、初始化、卸载设备驱动、A/D变换、I/O控制、计数、DA等操作。
2022-08-31 21:48:31 292KB VC++
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网络营销的基本理论.docx
2022-08-31 19:02:38 21KB
用于git培训,演示基本的git知识、安装和一些操作命令。
2022-08-31 09:24:16 1.09MB ppt git
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1.1空间基准补充说明 1.2要素调整说明 1.3要素属性结构调整 1.4其他调整内容 5.1数据库内容 5.2永久基本农田数据库要素的分类及编码方法
2022-08-30 22:06:42 1.53MB 永久基本农田 基本农田 数据库标准
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VCS学习笔记(三)----Makefile基本编译
2022-08-30 20:08:12 671B 学习
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导读:目前,双向可控硅已被广泛应用于工业、交通、家用电器等领域,可实现交流调压、电机调速、交流开关、路灯自动开启与关闭、温度控制、台灯调光、舞台调光等多种功能,它还被用于固态继电器和固态接触器电路中。那么,今天我们就为大家介绍有关双向可控硅的几大基本要点。   一、简单介绍   什么是双向可控硅呢?   双向可控硅TRIAC(Triode ACSemiconductor Switch)为三端双向可控硅开关,亦称为双向晶闸管或双向可控硅。TRIAC为三端元件,其三端分别为T1 (第二端子或第二阳极),T 2(端子或阳极)和G(控制极)亦为一闸极控制开关,与SCR的不同点在于TRIAC无论于
2022-08-29 16:49:05 119KB 双向可控硅的几大基本要素解析
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集成电路测试(IC测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展,其规模越来越大,对电路的质量与可靠性要求进一步提高,集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此,研究和发展IC测试,有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分,研究其生成方法也日渐重要。   1 IC 测试   1.1 IC测试原理   IC 测试是指依据被测器件(DUT)特点和功能,给DUT提供测试激励(X),通过测量DUT输出响应(Y)与期望输出做比较,从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本原理模型。   根据器件类型,IC测试可以分为数字电路测试
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GPS定位基本原理PPT课件PPT学习教案.pptx
2022-08-27 17:43:28 1.32MB 专业资料