完整英文版 IEC 60747-5-11:2019 Semiconductor devices - Part 5-11:Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes(半导体器件 - 第5-11部分:光电子器件 - 发光二极管 - 发光二极管的辐射电流和非辐射电流的测试方法)。IEC 60747-5-11:2019(E)规定了单个发光二极管(LED)芯片或无荧光粉封装的辐射电流和非辐射电流的测量方法。用于照明的白光LED不属于本文件的范围。本文件利用内部量子效率(IQE)作为电流的函数,其测量方法在其他文件中讨论。
2021-08-03 09:32:09 780KB iec 60747-5-11 半导体 发光二极管
完整英文版 IEC 60747-14-11:2021 Semiconductor devices - Part 14-11:Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature(半导体器件 - 第14-11部分:半导体传感器 - 用于测量紫外线、照明和温度的基于表面声波的集成传感器的测试方法)。IEC 60747-14-11:2021(E)定义了术语、定义、配置和测试方法可用于评估和确定基于表面声波的半导体传感器与紫外线、照度和温度传感器集成的性能特征。测量方法为直流特性和射频特性,射频特性的测量方法包括直接模式和基于反馈振荡的差动放大器模式。本文件不包括TC 49处理的设备:用于频率控制、选择和检测的压电、介电和静电设备及相关材料。
2021-08-03 09:32:03 1.23MB iec 60747-14-11 半导体 集成传感器
IEC 60068-2-11-1981 英法两种语言介绍
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