Semiconductor Material and Device Characterization
第三版，涉及：电阻，载流子浓度和掺杂密度，接触电阻和肖特基势垒，串联电阻和沟道长度宽度，阈值电压，缺陷，氧化界面，载流子寿命和迁移率，光学特性，化学物理特性，以及可靠性等多方面问题的研究，是一本优秀的国外半导体物理教程
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评论信息
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liutaow :不是图像版的，不错2015-05-13 -
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juemo :本书结合了材料器件的测试表征，同时介绍了基础知识，对一些问题做了很详细的说明。2015-01-25
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superfsy :经典好书，值得收藏2014-09-25
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lmggang :比较专业的书，英文版，文字清晰非影印版，非常好2013-12-28
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wowojiajiaqinqindada :介绍半导体很好的教材，很有启发性，多谢楼主！2013-06-14
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