(H27DGSD0)H27TDG8T2DW2 F1Y 128Gb MLC- Toggle DDR- Wafer Datashee

根据提供的文档信息，我们可以深入解析该产品的关键技术特点与规格参数。 ### 一、产品概述 文档标题中的“H27TDG8T2DW2 F1Y 128Gb MLC Toggle DDR Wafer Datasheet”明确指出这是一份关于SK hynix公司生产的128Gb Multi-Level Cell (MLC) NAND闪存晶圆的数据手册。该产品采用Toggle DDR接口技术，主要面向高性能及成本效益较高的应用领域，如高端移动设备、个人电脑以及数据存储解决方案等。 ### 二、关键特性 #### 1. 多级单元技术 (Multi-Level Cell) 该产品采用了多级单元技术，即每个存储单元可以保存2位数据（2bit/cell），相比单级单元（Single-Level Cell, SLC）可以存储更多数据，同时保持较高的存储密度。这种设计使得产品能够在提供更高容量的同时，保持较好的读写性能。 #### 2. NAND接口 - **Toggle DDR命令接口**：支持高速数据传输，能够显著提高读写速度。 - **x8总线宽度**：意味着每个操作周期内可传输8位数据，增强了数据吞吐能力。 - **DQ端口命令、地址和数据复用**：通过单一端口实现多种信号的传输，简化了电路设计并提高了效率。 #### 3. 供电电压 - 对于所有速度等级，主电源电压Vcc为2.7V~3.6V，而VccQ（用于内部逻辑电路）则为1.7V~1.95V； - 对于低于200Mbps的速率，VccQ的范围扩大至2.7V~3.6V。 #### 4. 组织结构 - **页面数**：每块含有388个页面； - **块数**：每个平面包含1362个块； - **平面数**：共有2个平面； - **单个块大小**：6.0625MB，由388个页面组成，每个页面大小为16,384字节加1,664字节的冗余区域； - **设备容量**：单个设备大小为2704+20个块，总容量达到128Gb。 #### 5. 操作时间 - **随机读取时间 (tR)**：典型值为60μs； - **页面编程时间 (tPROG)**：典型值为1000μs； - **块擦除时间 (tBERS)**：典型值为7ms，最大值为10ms。 #### 6. DQ性能 - **读取周期时间 (tRC)**：可选3.75ns或10ns； - **每针读取/写入吞吐量**：最高可达533Mbps。 #### 7. 单个芯片工作电流 - **页面读取 (ICC1)**：最大50mA； - **页面编程 (ICC2)**：最大50mA； - **DQ突发读取 (ICC4R)**：最大80mA； - **DQ突发编程 (ICC4W)**：最大80mA； - **空闲状态 (ICC5)**：最大5mA； - **待机模式 (ISB)**：最大100μA。 #### 8. 封装 该产品为晶圆形式，未进行封装，适用于定制化的封装需求。 ### 三、应用领域 由于其出色的性能表现和成本效益，F1Y 128Gb MLC NAND特别适合以下应用场景： - **高端移动设备**：智能手机、平板电脑等； - **个人电脑**：固态硬盘、内存条等； - **数据存储解决方案**：服务器、数据中心等。 ### 四、版本历史 该数据手册经过多次修订，版本号从0.0到0.2，修订日期分别为2017年5月31日、6月20日和7月11日，修订内容涉及垫片位置更新、垫片接触信息更新、零件编号描述更新以及关键特性更新（包括tPROG、tR、ISB等指标）。 通过以上分析，我们可以看到SK hynix F1Y 128Gb MLC NAND是一款具备高性能和高性价比的产品，在多个方面都展现出卓越的技术实力，是当今市场上极具竞争力的NAND闪存解决方案之一。