芯片测试-清华大学讲义
清华大学芯片测试讲义，主要内容包括：
1.可测试性测试和设计的基础知识
2.组合测试生成
3.故障模拟
4.顺序测试生成
5.内存测试
6.可测性测量
7.可测试性设计
8.边界扫描
9.内置自检
10. IDDQ测试
1.可测试性测试和设计的基础知识
2.组合测试生成
3.故障模拟
4.顺序测试生成
5.内存测试
6.可测性测量
7.可测试性设计
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9.内置自检
10. IDDQ测试
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