Chroma 3380是一种自动化测试设备，由Chroma ATE公司开发，主要用于集成电路（IC）测试。该设备通过执行一系列预设的测试流程来确保IC在规定的最严苛工作条件下（如电压、电流和温度的最小/最大值）能够正常运行并满足设计要求。IC测试的目的是确认其功能的准确性，其中包括对于数字IC功能描述的真值表、激励表、向量和图案（pattern）等文件的理解和应用。 数字信号具有三个基本要素：直流（DC）特性、功能（Function）和交流（AC）特性。直流特性涉及电压电平，例如逻辑低电平（VIL）和逻辑高电平（VIH）。功能特性指的是逻辑功能，而交流特性关注的是时序、速率和边沿等参数。测试机的功能方块图展示了不同测试要素的对应责任模块，其中直流特性由直流电阻（DR）、比较器（Compare）、数字电源供应（DPS）处理；功能特性由向量存储器、算法模式生成器（ALPG）、格式化模块和判断模块（Judge）负责；交流特性由定时发生器（ Timing Generator）、格式化模块和判断模块（strobe）等部分执行。 3380x系列产品的测试流程包括开机、校正、自检、向量编程和测试案例编制等步骤。对于不同的IC品种，可能存在多种测试流程，如质量控制（QC）、持续生产（CP）和功能测试（FT），并且每个流程都是由特定的程序来执行的。测试流程的先后顺序可以根据需要进行调整，但开短路测试项通常是测试流程的首个步骤。 Chroma 3380x系统具有丰富的测试功能，比如测试引脚通道的开路、短路和漏电测试等。该系统包括了测试头支架、计算机、测试头外部弹簧针引出口、承载板固定机构、支架固定座和风扇窗口等结构部件。测试机内部则包括PCB插槽、支架固定座、弹簧针、电路板卡、电源供应器和风扇背板等重要组件。 3380x系列产品的型号包括3360D和3360P，具备不同的频率特性，分别高达100MHz和50MHz。这一系列的产品在2015年11月已经停止生产（EOL）。3380P的整机外观由测试头支架和计算机组成，测试头的各个部分通过精细的装配来确保测试的精确性，例如风扇支架、电源供应器支架、电源开关背板以及PCB等。 此外，Chroma 3380x系列的编程课程提供了对测试程序开发、工程调适工具介绍和调适技巧的学习，这有利于用户更好地理解和应用3380x设备。Chroma公司承诺通过更好的解决方案来提高你的测试质量，文档版本1.0，于2007年发布。

IC测试基本理论；分四块 数字集成电路测试基本原理 存储器和逻辑芯片测试原理 混合信号芯片测试原理 射频/无线芯片测试原理

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随着微电子电路工程领域的出现和实质性的进步，电子产品在日常生活中的广泛应用才得以实现。可以在今天开发的微电子电路的类型在物理上小的封装内提供复杂的电路行为。诸如笔记本电脑，移动电话和个人数字助理（PDA）等高价值，高功能便携式电子系统的出现证明了这一点。自从1947年由贝尔实验室（美国）的Bardeen，Brattain和Shockley成功演示晶体管以来，半个多世纪以来，制造包含数百万个晶体管的微电子电路的能力是一项了不起的成就。随着设计复杂性和操作速度的提高，以及为了进一步降低产品成本而改进所使用的工程过程的需求，导致设备设计，制造和测试的所有方面的改进。本书旨在识别和讨论测试工程领域。

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集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试，从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长，提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求，本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案。该方案具备可操作性强的优点，只需要配合平台搭接简单的测试电路，然后使用C语言编写测试程序就能快速的将一个型号芯片的引脚开短路问题测试出来，并将结果反馈至上位机，使用户能够直观地判别被测芯片的好坏。

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