超大规模集成电路可测试性设计，内容包含ATPG、BIST、JTAG等，包含功能测试、直流测试、交流测试及Open/Short、闩锁效应等内容。
2021-07-16 11:17:05
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超大规模集成电路测试,DFT学习经典教材
第1章 概述
第2章 电路测试基础
第3章 验证、模拟和仿真
第4章 自动测试生成
第5章 专用可测性设计
第6 扫描设计
第7章 边界扫描法
第8章 随机测试和伪随机测试
第9章 内建自测试
第10章 电流测试
第11章 存储器测试
第12章 SoC测试
2021-05-14 17:38:58
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ijtag 1687协议，详细介绍了ijtag的协议，时序。IEEE Standard for Access and Control
of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device。
2021-05-07 15:14:23
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超大规模集成电路测试 数字 存储器和溷合信号系统_蒋安平.pdf超大规模集成电路测试 数字 存储器和溷合信号系统_蒋安平.pdf超大规模集成电路测试 数字 存储器和溷合信号系统_蒋安平.pdf超大规模集成电路测试 数字 存储器和溷合信号系统_蒋安平.pdf
2019-12-21 20:37:26
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